现代材料测试技术
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作者陶文宏,杨中喜,师瑞霞 主编
出版社化学工业出版社
ISBN9787122178206
出版时间2019-08
版次1
装帧平装
开本16开
纸张胶版纸
页数199页
字数329千字
定价39元
货号SC:9787122178206
上书时间2024-10-31
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商品详情
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内容简介:
本选题的主要功能是作为高等院校材料类专业相关测试技术的教材使用，同时也可用于与材料类相关专业的参考教材，及厂矿企业工程技术人员的参考书籍。教材主要介绍X射线衍射分析、电子显微分析、光学显微分析、热分析技术、红外光谱分析、X射线显微成分分析、扫描探针显微镜等测试技术（仪器）的工作原理、性能技术指标、使用方法及使用中应注意的问题，以及各种试样制备的方法及注意事项。并将结合当代材料科技发展的前沿，特别材料测试技术及仪器设备的发展近期新状况，介绍测试技术（仪器）的发展沿革，近期新的发展动态。
本教材的主要不同之处在于教材中的主要内容之一“光学显微分析”的内容，在现有的材料类专业测试技术方面的教材中都没有涉及或内容很少，不能满足我校课程设置的教学内容的需要。光学显微分析将介绍晶体光学基础，光学显微镜、偏光显微镜下晶体光学性质的测定（包括单偏光镜、正交偏光镜、锥光镜下晶体的光学性质）、反光显微镜下矿物的光学性质等内容。
目录:
绪论
第1章 X射线衍射分析
1.1 几何结晶学基础
1.1.1 晶体的特征
1.1.2 晶体结构的周期性和空间点阵
1.1.3 倒易点阵
1.2 X射线物理学基础
1.2.1 X射线的发现
1.2.2 X射线的本质
1.2.3 X射线的产生
1.2.4 X射线谱
1.2.5 X射线与物质的相互作用
1.2.6 X射线的探测与防护
1.3 X射线衍射理论
1.3.1 X射线衍射产生的物理原因
1.3.2 X射线衍射方程
1.3.3 X射线衍射束的强度
1.3.4 影响衍射线强度的几种因子及点阵消光法则
1.4 X射线衍射方法
1.4.1 常用的实验方法
1.4.2 粉晶法成像原理
1.5 X射线衍射仪
1.5.1 X射线光源
1.5.2 X射线测角仪
1.5.3 探测记录系统
1.5.4 实验与测量方法
1.6 X射线物相分析技术
1.6.1 定性分析
1.6.2 定量分析第2章 电子光学
2.1 电子显微镜发展简史
2.2 电子光学基础
2.2.1 光学显微镜的局限性
2.2.2 电子的波动性
2.2.3 电子在电磁场中的运动
2.2.4 电子透镜
2.
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