电子学系统辐射效应与加固技术
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作者许献国,曾超
出版社哈尔滨工业大学出版社
ISBN9787576705409
出版时间2023-05
版次1
装帧精装
开本16开
纸张胶版纸
页数400页
字数487千字
定价128元
货号SC:9787576705409
上书时间2024-05-09
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商品详情
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内容简介:
本书系统性地介绍辐射对电子学系统的损伤机制、研究方法和加固技术。第1～3章介绍辐射环境、辐射与物质的相互作用，以及电子元器件的辐射效应；第4～6章介绍多物理响应与多物理场作用、辐射效应的试验与测试，以及辐射环境与辐射效应的计算与仿真；第7章和第8章介绍电子学系统抗辐射加固技术与抗辐射性能评估。附录提供了常用的辐射效应数据以便查询。
本书适合辐射效应与加固技术相关专业高年级本科生和研究生使用，也可供相关工程技术人员和科研人员参考。
目录:
第1章辐射环境
1.1概述
1.2人为辐射环境
1.3大气辐射环境
1.4空间辐射环境
1.5其他辐射环境
1.6本章小结
本章参考文献
第2章辐射与物质的相互作用
2.1概述
2.2荷电粒子与靶物质的相互作用
2.3光子与物质的相互作用
2.4中子与靶物质的相互作用
2.5物质的电离损伤和位移损伤
2.6本章小结
本章参考文献
第3章电子元器件的辐射效应
3.1概述
3.2材料的辐射效应
3.3PN结和二极管、双极晶体管的辐射效应
3.4SiO2/Si界面和场效应晶体管的辐射效应
3.5双极工艺集成电路的辐射效应
3.6CMOS集成电路的辐射效应
3.7光电器件的辐射效应
3.8其他元器件的辐射效应
3.9本章小结
本章参考文献
第4章多物理响应与多物理场作用
4.1概述
4.2多物理响应
4.3多物理场作用
4.4本章小结
本章参考文献
第5章辐射效应的试验与测试
5.1概述
5.2辐射模拟源
5.3剂量测量
5.4宏观特性参数测量
5.5微观特性参数测量
5.6试验方法
5.7本章小结
本章参考文献
第6章辐射环境与辐射效应的计算与仿真
6.1概述
6.2计算与仿真工具
6.3辐射感生缺陷建模与仿真
6.4器件建模与仿真
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