伪集成电路检测与防护

图书标准信息

• 作者 [美]马克(穆罕默德)·德黑兰尼普尔 著
• 出版社 国防工业出版社
• 出版时间 2022-07
• 版次 1
• ISBN 9787118125009
• 定价 125.00元
• 装帧 其他
• 开本 16开
• 纸张 胶版纸
• 页数 227页
• 字数 262.000千字

【内容简介】

本书面向伪电子元件领域的初学者和专家，全面介绍相关的研究背景、安全威胁、物理和电子测试方法、对抗伪IC的防伪设计方法等相关研究主题，可为直接或间接受到伪元件强烈影响的政府、工业、测试实验室，以及学术界提供必需的路线图。

【目录】

第1章概述

1.1伪造品的历史

1.2伪造品

1.3伪造品占据了超过万亿美元的市场

1.4伪电子产品是一种新兴的威胁

1.5国防工业领域的伪电子产品评估

1.6总结

参考文献

第2章伪集成电路

2.1伪集成电路的类型

2.2伪电子元件的分类

2.2.1回收

2.2.2重标记

2.2.3超量生产

2.2.4不合格/有缺陷

2.2.5克隆

2.2.6伪造文件

2.2.7篡改

……

第3章 伪集成电路缺陷

第4章 基于物理测试的伪集成电路检测

第5章 基于电气测试的伪集成电路检测

第6章 现有伪元件检测方法的覆盖率评估

第7章 高级物理测试

第8章 高级电气测试

第9章 回收晶片与集成电路的防范

第10章 硬件IP水印

第11章 非可信制造商/组装商的未授权/不合格IC的预防

第12章 芯片识别码