高端光刻机像质检测技术(下册)
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作者王向朝等
出版社科学出版社
ISBN9787030673558
出版时间2023-07
装帧精装
开本16开
纸张胶版纸
定价228元
货号29219231
上书时间2024-07-16
商品详情
- 品相描述:全新
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正版全新
- 商品描述
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【内容】:光刻机像质检测技术是支撑光刻机整机与分系统满足光刻机分辨率、套刻精度等性能指标要求的关键技术。本书系统地介绍了光刻机像质检测技术。介绍了国际主流的光刻机像质检测技术,详细介绍了本团队提出的系列新技术,涵盖了光刻胶曝光法、空间像测量法、干涉测量法等检测技术,包括初像质参数、波像差、偏振像差、动态像差、热像差等像质检测技术。本书介绍了这些技术的理论基础、原理、模型、算法、仿真与实验验证等内容。以光刻机原位与在线像质检测技术为主,也介绍了投影物镜的离线像质检测技术,涵盖了深紫外干式、浸液光刻机以及紫外光刻机像质检测技术。
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