数字电子技术基础实验

图书标准信息

• 作者 李雷 主编；杨刚 副主编
• 出版社 电子工业出版社
• 出版时间 2004-01
• 版次 1
• ISBN 9787505393837
• 定价 15.00元
• 装帧 平装
• 开本 其他
• 纸张 胶版纸
• 页数 162页
• 字数 269千字

【内容简介】

本教材是根据高等院校理工科本科的数字电子技术实验课程基本要求编写的。书中实验内容丰富，包含原理性、验证性实验和设计性实验，具有实物实验与以Multisim 2001为代表EDA设计仿真实验紧密结合的特点，并含有可编程逻辑器件设计实验。书后附录部分包含内容详细的Multisim 2001的使用指南，并附有实验中常用的数字器件引脚图和逻辑功能表，供读者查阅。本书可作为高等院校电类和非电类专业本科生、专科生教材，亦可作为电视大学、职业大学、业余大学以及远程教育、网络教育中的电类和非电类专业的电子技术实验教学用书

【目录】

实验一  TTL和CMOS门电路参数的测试

实验二  基本门电路逻辑功能验证

实验三  OC门和三态门的应用

实验四  编码器和译码器

实验五  数据选择器

实验六  组合逻辑电路的应用

实验七  触发器

实验八  寄存器

实验九  数值比较器

实验十  CMOS器件功能测试

实验十一  计数器

实验十二  半加器和全加器的逻辑功能验证

实验十三  逻辑电路的竞争冒险现象

实验十四  脉冲的产生与整形

实验十五  555定时器功能及应用

实验十六  存储器

实验十七  数模转换器

实验十八  模数转换器

实验十九  用PLD实现74LS138功能

实验二十  用PLD实现74LS90功能

 附录A  Multisim 2001使用指南

 附录B  NET-lI数字实验系统的结构及使用说明

 附录C  数字集成电路引脚排列图