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半导体器件电离辐射总计量效应

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天津东丽
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作者陈伟;何宝平;姚志斌;马武英

出版社科学出版社

ISBN9787030700391

出版时间2022-10

版次31

装帧其他

开本16开

页数240页

字数302千字

定价135元

货号新起

上书时间2024-10-24

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