半导体器件电离辐射总计量效应
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作者姜明
出版社科学出版社
ISBN9787030699572
出版时间2021-10
版次1
装帧平装
开本16开
纸张胶版纸
页数171页
字数296千字
定价180元
货号xhsj-x9787030699572
上书时间2024-12-27
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