空间电子仪器单粒子效应防护技术

图书标准信息

• 作者 王跃科、邢克飞、杨俊 作者
• 出版社 国防工业出版社
• 出版时间 2010-11
• 版次 1
• ISBN 9787118072082
• 定价 65.00元
• 装帧 平装
• 开本 其他
• 纸张 其他
• 正文语种 简体中文
• 原版书名 Single Event Effect Mitigation Techniques for Space Electronic Instrument

【内容简介】

《空间电子仪器单粒子效应防护技术》以空间电子仪器处理平台中最常用且对SEE最敏感的FPGA和DSP作为研究对象，针对日益迫切的单粒子效应防护设计问题，从器件应用这样一个全新的层面，研究了FPGA和DSP的单粒子效应故障分析模型与故障特性、空间电子仪器高可靠体系结构、单粒子效应故障检测与加固技术和基于单粒子效应故障特性的故障注入验证技术。

【目录】

第1章绪论  1.1单粒子效应的影响及发展趋势  1.2 VLSI单粒子效应防护的紧迫性  1.3 VLSI单粒子效应研究综述 …