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现货 Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability

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1500 九品

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北京昌平

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作者Ashok K. Sharma

出版社Wiley-IEEE Press

ISBN9780780310001

出版时间1900

装帧精装

页数480页

货号G

上书时间2023-09-08

北京书香外文

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商品详情

品相描述：九品: 近全新，运输中封面边角轻微磕碰，内页完好，图片实拍。

商品描述: Semiconductor Memories provides in-depth coverage in the areas of design for testing, fault tolerance, failure modes and mechanisms, and screening and qualification methods including.
* Memory cell structures and fabrication technologies.
* Application-specific memories and architectures.
* Memory design, fault modeling and test algorithms, limitations, and trade-offs.
* Space environment, radiation hardening process and design techniques, and radiation testing.
* Memory stacks and multichip modules for gigabyte storage.

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