晶体光学第三版第3版倪志耀地质出版社9787116061576
￥ 2.89 1.9折 ￥ 15 八五品
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作者倪志耀
出版社地质出版社
ISBN9787116061576
出版时间2011-05
版次1
装帧平装
开本16开
纸张胶版纸
页数132页
字数99999千字
定价15元
货号9787116061576
上书时间2024-02-14
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基本信息
书名:晶体光学第三版第3版
定价：15元
作者:倪志耀
出版社：地质出版社
出版日期：2011-05-01
ISBN：9787116061576
字数：230000
页码：132
版次：132
装帧：平装
开本：16开
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内容提要
《晶体光学（第3版）》以晶体光学的基本原理和基础知识作为切入点，系统介绍了偏光显微镜的构造与使用方法，晶体在单偏光镜、正交偏光镜和锥光镜下的晶体光学性质及其应用，归纳总结了透明矿物系统鉴定的内容、步骤及切面的选择。 对晶体光学在宝玉石鉴定中的应用也作了一般性介绍。 《晶体光学（第3版）》可用于普通高等院校地质学、资源勘查工程和地球化学等专业的晶体光学教材，也可作为岩矿鉴定、宝玉石鉴定人员和其他地质科研工作者的参考用书。
目录
前言第二版前言版前言章 晶体光学基础节 光的波动性第二节 光的折射及全反射一、光的折射及折射率二、光的全反射及全反射临界角第三节 自然光及偏振光第四节 光波在均质体和非均质体中的传播特点一、光性均质体（各向同性介质）二、光性非均质体（各向异性介质）第五节 光率体一、均质体（高级晶族晶体）的光率体二、一轴晶（中级晶族晶体）的光率体三、二轴晶（低级晶族晶体）的光率体第六节 光性方位一、中级晶族晶体（一轴晶）的光性方位二、低级晶族晶体（二轴晶）的光性方位第七节 光率体色散一、均质体的光率体色散二、一轴晶的光率体色散三、二轴晶的光率体色散复习思考题第二章 偏光显微镜节 偏光显微镜的构造一、机械系统二、光学系统三、附件第二节 偏光显微镜的调节与校正一、装卸镜头二、调节 照明（对光）三、调节 焦距（准焦）四、校正中心五、视域直径的测定六、目镜十字丝的检查七、偏光镜的校正第三节 偏光显微镜的研究对象第四节 偏光显微镜的使用与保养复习思考题实验课第三章 单偏光镜下的晶体光学性质节 单偏光镜的装置及光学特点第二节 矿物的形态第三节 矿物的解理一、解理缝及其影响因素二、解理等级的划分三、解理夹角的测定第四节 矿物的颜色一、颜色的产生二、多色性与吸收性第五节 矿物的突起一、边缘、贝克线与糙面二、突起等级的划分三、突起等级的确定四、闪突起复习思考题实验课第四章 正交偏光镜下的晶体光学性质节 正交偏光镜的装置及光学特点第二节 矿片的消光现象及其类型一、消光的概念二、消光类型的划分三、各晶系矿物的消光特点第三节 矿片的干涉现象及其成因第四节 矿片的干涉色及其变化一、干涉色及其成因二、干涉色级序及各级序的特征三、干涉色色谱表四、异常干涉色第五节 补色法则及补色器一、补色法则二、几种常用的补色器第六节 矿片消光与干涉现象的应用一、非均质体矿片上光率体椭圆半径方向及名称的测定二、干涉色级序的观察与测定三、双折率的测定四、消光类型及消光角的测定五、晶体延性符号的测定六、双晶的观察复习思考题实验课第五章 锥光镜下的晶体光学性质节 锥光镜的装置及光学特点第二节 一轴晶干涉图的图像特点与成因一、垂直光轴切面的干涉图二、斜交光轴切面的干涉图三、平行光轴切面的干涉图第三节 二轴晶干涉图的图像特点与成因一、垂直锐角等分线（j_觑o）切面的干涉图二、垂直一个光轴切面的干涉图三、斜交光轴切面的干涉图四、垂直钝角等分线（上矾o）切面的干涉图五、平行光轴面（∥AP）切面的干涉图第四节 一轴晶与二轴晶干涉图的应用一、轴性及切面方向的确定-二、光性符号的测定三、光轴角（2y）大小的测定（或估计）第五节 锥光镜下色散现象的观察一、斜方晶系矿物的色散现象二、单斜晶系矿物的色散现象三、三斜晶系矿物的色散现象复习思考题实验课第六章 透明矿物的系统鉴定节 透明矿物系统鉴定的内容一、单偏光镜下的观察内容二、正交偏光镜下的观察内容三、锥光镜下的观察内容第二节 常用的定向切面及其特征一、垂直光轴切面二、平行光轴（一轴晶）或平行光轴面（二轴晶）的切面第三节 系统鉴定的步骤与程序一、区分均质体和非均质体矿物二、均质体矿物的鉴定三、非均质体矿物的鉴定第四节 系统鉴定的描述实例复习思考题实验课第七章 晶体光学在宝玉石鉴定中的应用节 宝玉石晶体光学鉴定的常用仪器一、宝石显微镜二、偏光镜三、二色镜四、折射仪五、分光镜第二节 宝玉石晶体光学鉴定的主要内容第三节 宝玉石原料的晶体光学鉴定第四节 宝玉石制品的晶体光学鉴定一、偏光显微镜观察二、宝石显微镜观察三、偏光镜观察四、二色镜观察五、折射仪观察六、分光镜观察复习思考题主要参考文献图版说明及图版
作者介绍
序言
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