集成电路测试指南
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作者编者:邬刚//王瑞金//包军林|责编:赵亮宇
出版社机械工业出版社
ISBN9787111683926
出版时间2021-06
版次1
装帧平装
开本16开
纸张胶版纸
页数272页
定价99元
货号SC:9787111683926
上书时间2024-12-23
商品详情
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主编推荐:
1.本书将集成电路测试原理、方法与工程实践紧密结合，内容涵盖数字芯片、模拟芯片、混合芯片和电源管理芯片等主要类型的集成电路测试。2。本书由集成电路测试应用专家团队撰写，适合集成电路行业工程师、技术人员入门参考阅读，也适合作为大学和职业教育等集成电路相关专业学生学习的专业教材。
内容简介:
《集成电路测试指南》将半导体集成电路测试原理与实际测试实现过程相结合，内容涵盖半导体集成电路测试流程，测试原理以及集成运算放大器、电源管理芯片、电可擦除编程只读存储器芯片、微控制器芯片、数模转换芯片等产品的测试实例。
《集成电路测试指南》的特点是理论与实践相结合，避免了“纸上谈兵”。
通过学习《集成电路测试指南》，读者可以对集成电路测试有一个全面的认识，从而快速进入半导体集成电路测试工程领域。《集成电路测试指南》的主要读者是即将从事集成电路测试工作的工程师和大学或职业教育领域相关专业的学生。
目录:
序一
序二
序三
前言
第一篇 集成电路测试及测试系统简介
第1章 集成电路测试简介
1.1 集成电路测试的分类
1.1.1 集成电路测试分类
1.1.2 CP测试流程及设备
1.1.3 FT测试流程及设备
1.2 IC测试项目
1.3 产品手册与测试计划
1.3.1 产品手册
1.3.2 测试计划
1.4 测试程序
1.4.1 测试程序的分类
1.4.2 量产测试程序的流程
1.4.3 分类筛选
第2章 集成电路测试系统
2.1 模拟IC测试系统
2.2 数字IC测试系统
2.2.1 数字测试系统的组成
2.2.2 PMU的原理与参数设置
2.2.3 引脚电路的组成和原理
2.3 混合IC测试系统
2.3.1 模拟子系统与数字子系统
2.3.2 测试同步
2.4 ST2500高性能数模混合测试系统
2.4.1 ST2500硬件资源
2.4.2 环境要求
2.5 ST-IDE软件系统
2.5.1 ST-IDE软件界面
2.5.2 基于ST-IDE的测试程序开发流程
2.5.3 工厂界面
2.6 集成电路测试工程师实训平台
2.6.1 实验产品
2.6.2 教学实验板的使用
第二篇 集成电路基本测试原理
第3章 直流及参数测试
3.1 开短路测试
3.1.1 开短路测试的目的和原理
3.1.2
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