CEI测量技术原理系统设计与应用(精)/中国航天空间信息技术系列

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作者作者:黄磊//刘友永//陈少伍//孟玮|责编:戚亚

出版社清华大学出版社

ISBN9787302660675

出版时间2024-05

装帧精装

纸张胶版纸

定价99元

货号ZJ:9787302660675

上书时间2024-12-21

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商品描述: 内容简介:
CEI（connected element interferometry，连线干涉测量，也可称为“短基线干涉测量”）技术是干涉测量技术的一种，其基线长度一般为几十千米；其通过对载波相时延的测量，进而实时获得目标相对于基线矢量的精确角位置，可适用于中高轨卫星的高精度测定轨及相对定位。
本书重点介绍了CEI技术的基本原理，CEI系统的设计构建，实现CEI所突破的关键技术，以及CEI技术的工程应用实例；内容丰富全面，理论与实践并重。本书有助于从事航天测控工作的技术人员系统掌握和了解CEI技术的工作原理及CEI系统实现方法，具有较高的参考价值。

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