测控仪器设计
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全新
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作者刘炳国,刘庆纲主编
出版社机械工业出版社
ISBN9787111719588
出版时间2023-02
版次4
装帧平装
开本16开
纸张胶版纸
页数344页
字数559千字
定价59.8元
货号SC:9787111719588
上书时间2024-12-02
商品详情
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内容简介:
本书为高等工科院校“测控技术与仪器”专业“十一五”规划教材。本书从总体设计出发,用创新设计思想组织光、机、电、算相结合的测控仪器设计内容。
本书首先系统地论述了测控仪器的精度理论、总体设计的理论与方法,然后分析了在总体设计时如何考虑测控仪器的精密机械系统、电路与软件系统、光电系统设计的主要问题和方法。
本书内容荟萃了近代仪器设计的有关资料和科研成果,体系新颖,具有相当的深度和广度。适用于仪器、机械、电子、光电类专业师生和从事仪器仪表科研、计量、生产开发的工程技术人员学习和参考。
目录:
第4版前言
第3版前言
第一章测控仪器设计概论1
第一节测控仪器的概念和组成1
一、测控仪器的概念1
二、测控仪器的组成3
第二节测控仪器及其设计的发展状况与
趋势5
一、测控仪器的发展状况和发展趋势5
二、测控仪器设计的发展概况7
第三节测量仪器通用术语及定义13
第四节对测控仪器设计的要求和设计
程序16
一、设计要求16
二、设计程序17
思考题18
第二章仪器精度理论19
第一节仪器精度理论中的若干基本概念19
一、 测量误差19
二、 精度20
三、 仪器的静态特性与其常用精度指标21
四、仪器的动态特性与其精度指标 22
第二节仪器误差的来源与性质25
一、原理误差25
二、制造误差29
三、运行误差30
第三节仪器误差的分析与计算32
一、 误差独立作用原理33
二、 微分法34
三、几何法35
四、作用线与瞬时臂法36
五、数学逼近法42
六、控制系统的误差分析法43
七、蒙特卡洛方法45
第四节仪器误差的综合49
一、随机误差的综合50
二、系统误差的综合50
三、仪器总体误差的合成51
第五节仪器误差的分析合成举例52
一、 数字显示式立式光学计原理与结构52
二、数字显示式立式光学计精度分析5
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