硬件电路与产品可靠性设计
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全新
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作者编者:朱波|责编:杨迪娜//薛阳
出版社清华大学出版社
ISBN9787302613725
出版时间2022-09
装帧平装
纸张胶版纸
定价69元
货号ZJ:9787302613725
上书时间2024-09-19
商品详情
- 品相描述:全新
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- 商品描述
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作者简介:
朱波,从事硬件电路和产品设计工作20余年,担任过硬件工程师、硬件总监等职务,在电路可靠性设计方面积累了丰富的实战经验。主导设计过的产品,市场销售累计上千万台,产品可靠性高,在行业内处于领先位置。
内容简介:
本书作者长期工作在研发一线,结合自己多年设计经验编写本书,从硬件电路和产品设计等方面系统地论述了产品可靠性。全书共分为6章:第1章是器件选型可靠性设计,详细讲述了器件选型原则、器件失效分析、元器件筛选方法、供应商管理方法;第2章从电路简化设计、接口防护、电路耐环境设计等方面阐述了硬件可靠性设计;第3章梳理了产品的硬件测试,分别讲述了信号质量测试、信号时序测试、硬件功能测试和硬件性能测试;第4章叙述了PCB可靠性设计,详细讲解了PCB器件布局和PCB走线设计;第5章从研发过程可靠性评审来解读产品可靠性设计,重点讲解了产品研发各阶段的评审内容;第6章以一款手持智能终端的设计为具体案例,完整地讲述了产品的研发过程和产品可靠性设计要点。
本书适合硬件设计人员、PCB设计工程师、产品经理、高校电子专业学生阅读,也可作为产品可靠性设计、电路设计等方面的培训教材。
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