土壤环境界面分析方法
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作者蔡鹏，殷辉等编
出版社科学出版社
ISBN9787030753755
出版时间2023-05
版次1
装帧平装
开本16开
纸张胶版纸
页数348页
字数552千字
定价129元
货号SC:9787030753755
上书时间2024-09-17
商品详情
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内容简介:
本书涵盖土壤环境界面研究中17种近期新分析方法与表征技术，主要包括界面谱学分析，如X射线吸收光谱、原子配对分布函数、X射线吸收精细结构光谱、红外光谱、拉曼光谱、核磁共振波谱、穆斯堡尔谱、二次离子质谱、傅里叶变换离子回旋共振质谱等；界面表征技术，如电位滴定、石英晶体微天平、原子力显微镜、微流控等；界面模型与理论计算，如表面络合物模型、密度泛函理论等。各章节在简要介绍方法或技术的概念、基本原理和功能的基础上，重点介绍其在土壤环境界面研究中的应用实例。本书编写遵循基本原理与应用相结合，优选性、系统性和实用性相统一的原则，力求深入浅出、通俗易懂，使读者能够了解和掌握相关技术和方法，并能最终应用到相关研究中。
目录:
第一篇 界面谱学分析
第1章 多晶粉末X射线衍射 2
1.1 基本原理 2
1.1.1 X射线的特征 2
1.1.2 X射线与物质的相互作用 2
1.1.3 X射线衍射理论 3
1.1.4 X射线衍射的产生 3
1.1.5 X射线连续谱与特征谱 4
1.2 基本概念 5
1.2.1 晶体 5
1.2.2 空间点阵 6
1.2.3 晶胞 6
1.2.4 布拉维点阵 6
1.2.5 晶系 7
1.2.6 晶面指数 8
1.2.7 晶体对称操作、点群和空间群 9
1.3 X射线衍射仪系统及常规测量 17
1.3.1 X射线衍射仪系统 17
1.3.2 X射线衍射仪的常规测量 19
1.4 物相鉴定 20
1.4.1 物相鉴定基础 20
1.4.2 物相鉴定实例 22
1.5 Rietveld全谱拟合精修 24
1.5.1 Rietveld全谱拟合基础 24
1.5.2 TOPAS软件及其在环境界面研究中的应用 27
参考文献 34
第2章 高能X射线总散射 35
2.1 基本原理 35
2.2 数据采集与结构分析 37
2.2.1 数据采集 37
2.2.2 直接信息 38
2.2.3 原子配对分布函数模型拟合 40
2.2.4 差分原子配对分布函数 41
2.3 高能X射线总散射分析在环境界面研究中的应用 41
2.3.1 晶粒尺寸分析 42
2.3.2 弱晶质矿物
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