宇宙高可靠FPGA设计技巧
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作者赵万良，王有波，张晓慧编著
出版社中国宇航出版社
ISBN9787515919096
出版时间2021-12
版次1
装帧精装
开本16开
纸张胶版纸
页数188页
字数286千字
定价80元
货号SC:9787515919096
上书时间2024-06-26
商品详情
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内容简介:
本书对宇航用FPGA及其可靠性的相关技术进行了介绍，包括FPGA芯片制造技术，可靠性通用设计方法，空间辐射对FPGA的影响及抗单粒子翻转设计方法，FPGA检错、容错、纠错技术，FPGA局部和远程重配置的在轨维护与功能升级方法、FPGA测试流程与测试方法等。
本书主要面向从事宇航及相关领域研究的科研工作者和高校师生，可在FPGA的理论研究、设计开发、可靠性研究以及宇航应用等方面为读者提供借鉴与参考。
目录:
第1章绪论1
1.1FPGA的发展历程2
1.1.1Microsemi公司4
1.1.2Xilinx公司5
1.1.3宇航用FPGA现状6
1.2宇航用FPGA发展趋势8
1.2.1高容量、高密度、高速度、低功耗8
1.2.2高软件复用率8
1.2.3高系统集成度8
1.2.4高可靠性8
参考文献10
第2章反熔丝FPGA芯片技术11
2.1FPGA基础技术介绍11
2.1.1FPGA编程技术11
2.1.2FPGA逻辑单元14
2.1.3FPGA布线架构16
2.2反熔丝FPGA的结构19
2.2.1整体架构19
2.2.2布线通道及互连线资源19
2.2.3可编程逻辑单元21
2.2.4I/O模块21
2.2.5时钟网络23
2.3反熔丝FPGA编程技术25
2.3.1反熔丝器件25
2.3.2反熔丝编程电压26
2.3.3反熔丝FPGA编程技术28
2.3.4比特位流文件介绍28
2.4FPGA器件抗辐照情况30
2.4.1空间辐射环境概述30
2.4.2电离辐射效应31
2.4.3反熔丝FPGA的抗辐照指标实例32
2.5典型设计实例32
参考文献36
第3章FPGA可靠性设计通用技术38
3.1复位设计38
3.1.1复位38
3.1.2高电平复位与低电平复位41
3.1.3复位时长设计依据43
3.1.4远程遥控复
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