材料科学研究与测试方法

图书标准信息

• 作者 王恒志 编；朱和国
• 出版社 东南大学出版社
• 出版时间 2008-04
• 版次 1
• ISBN 9787564111045
• 定价 33.00元
• 装帧 平装
• 开本 大32开
• 纸张 胶版纸
• 页数 333页
• 字数 537千字

【内容简介】

本书首先介绍了晶体学基础知识，然后系统介绍了X射线的物理基础、X射线衍射的方向与强度、多晶体X射线衍射分析的方法、x射线衍射仪及其在物相鉴定、宏微观应力与晶粒尺寸的测定、多晶体的织构分析等方面的应用；介绍了电子衍射的物理基础、透射电子显微镜的结构与原理、衍射成像、运动学衬度理论、高分辨透射电子显微技术、扫描电子显微镜的结构与原理、电子探针及其应用；介绍了AES、XPS、STM、LEED等常用表面分析技术和TG、DTA、DSC等常用热分析技术的原理、特点及其应用；最后简单介绍了光谱分析技术，包括原子光谱、红外光谱、激光光谱等。书中研究和测试的材料包括金属材料、无机非金属材料、高分子材料、非品态材料、金属问化合物、复合材料等。对每章内容作了提纲式的小结，并附有适量的思考题。书中采用了一些作者尚未发表的图片和曲线，同时在实例分析中还注重引入了一些当前材料界最新的研究成果。

  本书是教育部评选的普通高等教育“十一五”国家级规划教材，可作为材料科学与工程学科本科生的学习用书，也可供相关学科与专业的研究生、教师和科技工作者使用。

【目录】

1 晶体学基础

  1.1 晶体及其基本性质

  1.2 晶向、晶面及晶带

  1.3 晶体的宏观对称及点群

  1.4 晶体的微观对称与空间群

  1.5 晶体的投影

  1.6 倒易点阵

  本章小结

  思考题

2 X射线的理基础

  2.1 X射线的发展史

  2.2 X射线的性质  

  2.3 X射线谱

  2.4 X射线与物质的相互作用

  本章小结

  思考题

3 X射线的衍射原理

  3.1 X射线衍射的方向

  3.2 X射线的衍射强度

  本章小结

  思考题

4 X射线的多晶衍射分析及其应用

  4.1 X射线衍射仪

  4.2 X射线物相分析

  4.3 点阵常数的精确测定

  4.4 宏观应力的测定

  4.5 微观应力及晶粒大小的测定

  4.6 非晶态物质及其晶化后的衍射

  4.7 膜厚的测量

  4.8 多晶体的织构分析

  本章小结

  思考题

5 电子显微分析的基础

  5.1 光学显微镜的分辨率

  5.2 电子波的波长

  5.3 电子与固体物质的作用

  5.4 电子衍射

  本章小结 

  思考题

6 透射电子显微镜

7 薄晶体的高分辨像

8 扫描电子显微镜及电子探针

9 表面分析技术

10 热分析技术

11 光谱分析技术

附录

参考文献