自动测试系统--硬件及软件技术

图书标准信息

• 作者 秦红磊、路辉、郎荣玲 著
• 出版社 高等教育出版社
• 出版时间 2007-10
• 版次 1
• ISBN 9787040222579
• 定价 49.70元
• 装帧 平装
• 开本 16开
• 纸张 胶版纸
• 页数 432页

【内容简介】

本书以自动测试系统设计的硬件、软件和下一代自动测试系统信息框架技术为主要内容，共分为三大部分16章，分别对自动测试系统的总线技术、软件技术及下一代测试体系信息框架技术进行了深入和详细的阐述。总线技术内容包括通用计算机测试总线技术、GPIB总线技术、VXI和MXI-2总线技术、PXI总线技术、LXI总线技术；软件技术包括计算机通用软件技术、自动测试系统软件开发环境、自动测试系统通用测试语言、自动测试系统仪器控制软件；下一代测试体系信息框架技术包括NeTestATS技术、ABBET体系结构、核心测试信息模型、测试基础框架、ABBET资源管理、AI-ESTATE规范。    本书可作为高等院校有关专业研究生教材或本科高年级教材，也可供从事自动测试系统开发、研制、生产的工程技术人员参考使用。