功率半导体器件
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北京朝阳
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作者邓二平, 黄永章, 丁立健编著
出版社化学工业出版社
ISBN9787122449344
出版时间2024-05
装帧平装
开本其他
定价139元
货号4598038
上书时间2024-07-27
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目录
本书讲述了功率半导体器件的基本原理, 涵盖Si器件、SiC器件, GaN器件以及GaAs器件等; 综合分析和呈现了不同类型器件的封装形式、工艺流程、材料参数、器件特性和技术难点等; 将功率器件测试分为特性测试、极限能力测试、高温可靠性测试、电应力可靠性测试和寿命测试等, 并详细介绍了测试标准、方法和原理, 同步分析了测试设备和数据等; 重点从测试标准、方法、理论和实际应用各方面, 详细介绍了高温可靠性测试和封装可靠性测试及其难点。本书结合企业实际需求, 贴近工业实践, 知识内容新颖, 可为工业界以及高校提供前沿数据, 为高校培养专业人才奠定基础。
内容摘要
本书讲述了功率半导体器件的基本原理，涵盖Si器件、SiC器件，GaN器件以及GaAs器件等；综合分析和呈现了不同类型器件的封装形式、工艺流程、材料参数、器件特性和技术难点等；将功率器件测试分为特性测试、极限能力测试、高温可靠性测试、电应力可靠性测试和寿命测试等，并详细介绍了测试标准、方法和原理，同步分析了测试设备和数据等；重点从测试标准、方法、理论和实际应用各方面，详细介绍了高温可靠性测试和封装可靠性测试及其难点。本书结合企业实际需求，贴近工业实践，知识内容新颖，可为工业界以及高校提供前沿数据，为高校培养专业人才奠定基础。
本书可作为功率半导体领域研究人员、企业技术人员的参考书，也可作为电力电子、微电子等相关专业高年级本科生和研究生教材。
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★★★★★ 内容全面，技术前沿：从功率半导体器件的基础，到封装、测试、可靠性。
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