焊接残余应力的中子衍射测试技术、计算与调控
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作者蒋文春,涂善东,孙光爱
出版社科学出版社
ISBN9787030612403
出版时间2023-07
装帧平装
开本16开
纸张胶版纸
定价118元
货号27900133
上书时间2024-07-11
商品详情
- 品相描述:全新
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正版全新
- 商品描述
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【内容】:本书基于中子衍射应力测试科学平台和有限元分析软件,介绍焊接残余应力的中子衍射测试技术与有限元模拟方法。全书主要内容包括中子衍射残余应力测试装置、理论与方法,焊接残余应力的计算方法、强化模型与取样尺寸对残余应力的影响、残余应力在疲劳和高温环境下的演变规律、低温马氏体相变、焊接残余应力的调控理论及模拟手段、厚板焊接残余应力的有限元简化算法等。
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