高频电子电路S参数测量与校准技术
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作者郁发新
出版社浙江大学出版社
ISBN9787308239899
出版时间2023-11
装帧平装
开本16开
纸张胶版纸
定价320元
货号29652554
上书时间2024-07-27
商品详情
- 品相描述：全新
- 正版全新
- 商品描述
-
【内容简介】:
描述传输通道频域特性的散射参数（scattering parameter，S参数），用于表征被测器件线性矢量参数频率响应的幅频与相频特性，是高频电子电路中基本、常用的核心指标参数之一。本书以S参数测量与校准为切入点，以图文并茂的方式深入浅出地介绍了S参数的基本概念与发展历史、矢量网络分析仪结构与工作原理、性能指标解读与评判、各种S参数校准、去嵌方法原理与优劣、不确定度分析、自动测试技术、使用技巧和注意事项、行业新发展动态等，全面总结了迄今为止各种S参数校准、去嵌方法的数学原理及该领域多年发展成果。
本书适合进行S参数测试相关的专业人士阅读使用，也适合作为广大高等院校相关专业学生以及企业、研究机构相关专业人员的参考书。
本书创新点：
·以国家战略需求为导向，直面“卡脖子”痛点和难点
·作者权威，在射频芯片研究领域深耕多年
·代表我国高精度测量领域高精尖技术前沿
【作者简介】:
郁发新教授浙江大学航天电子工程研究所所长、博士生导师，国家wr计划科技领军人才、国防科技卓越青年人才和国防科技创新团队牵头人。在射频模拟芯片领域具有扎实的理论基础和丰富的di一线研发经验，开发了大量通信、导航、雷达所用的高端射频模拟芯片，有效支撑了我国多个重点型号的装备，大力推动了我国高端射频模拟芯片技术快速发展。
【目录】:
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