互换性与测量技术基础高丽于涛杨俊茹北京理工大学出9787568252430
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作者编者:高丽//于涛//杨俊茹
出版社北京理工大学出版社
ISBN9787568252430
出版时间2017-11
装帧平装
开本16开
定价55元
货号9787568252430
上书时间2024-04-24
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商品详情
- 品相描述：八五品
- 正版旧书 外观八成新 部分笔记 内容完好无损
- 商品描述
- 书名：互换性与测量技术基础高丽于涛杨俊茹北京理工大学出9787568252430，作者：'编者:高丽//于涛//杨俊茹'，ISBN：9787568252430，出版社：北京理工大学出版社
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