集成电路测试技术基础 附光盘
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九品
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作者姜岩峰、张晓波、杨兵 编
出版社化学工业出版社
出版时间2008
货号343
上书时间2021-09-03
商品详情
- 品相描述:九品
图书标准信息
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作者
姜岩峰、张晓波、杨兵 编
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出版社
化学工业出版社
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出版时间
2008
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ISBN
9787122029485
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定价
26.00元
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装帧
其他
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开本
24cm
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页数
170页
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正文语种
简体中文
- 【内容简介】
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本书分为三大部分内容,主要介绍了逻辑数字集成电路测试、时序数字电路的测试、模拟集成电路测试技术等。
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