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表面分析技术

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作者[英]伊恩·S·吉尔摩 编;陈建 译;[英]约翰·C·维克曼

出版社中山大学出版社

出版时间2020-12

版次1

装帧其他

上书时间2024-09-23

   商品详情   

品相描述:全新
图书标准信息
  • 作者 [英]伊恩·S·吉尔摩 编;陈建 译;[英]约翰·C·维克曼
  • 出版社 中山大学出版社
  • 出版时间 2020-12
  • 版次 1
  • ISBN 9787306066893
  • 定价 200.00元
  • 装帧 其他
  • 开本 其他
  • 纸张 胶版纸
  • 字数 732千字
【内容简介】
本书介绍表面分析主要技术,包括俄歇电子能谱、X射线光电子能谱、二次离子质谱、低能粒子散射和卢瑟福背散射技术、表面分子振动光谱技术以及扩展X射线吸收精细结构和扫描隧道显微技术、原子力显微技术等。本书主要阐述上述表面分析技术的基本原理和实用样品实例分析,每章结尾处还附有相关的分析练习题供读者训练,判断自己对书中知识内容掌握的程度。
【作者简介】
陈建,中山大学研究员、博士生导师,主要研究领域包括材料的分子光谱和电子能谱分析、纳米材料表面和界面性能研究等。
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