互换性与技术测量
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作者孙庆唐、赵丽丽、张春翊、杨洁、王道青 著
出版社清华大学出版社
ISBN9787302611431
出版时间2022-08
版次1
装帧平装
开本16开
纸张胶版纸
页数224页
字数340千字
定价42元
货号xhsj-RZ
上书时间2024-10-07
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商品详情
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