集成电路封装与测试
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作者吕坤颐 刘新 牟洪江
出版社机械工业出版社
ISBN9787111617280
出版时间2018-09
版次1
装帧其他
开本其他
页数217页
字数343千字
定价45元
货号XQD-9787111617280
上书时间2024-03-17
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商品详情
- 品相描述：全新
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- 商品描述
- 9787111617280，集成电路封装与测试，机械工业出版社，定价：45，仓位：B021-1-4
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