互换性与技术测量基础
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作者王莉静 ；郝 龙；吴金文
出版社华中科技大学出版社
ISBN9787568059763
出版时间2020-04
版次1
装帧其他
开本16开
纸张胶版纸
页数236页
定价38元
货号105_9787568059763
上书时间2024-07-04
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