【现货】公差配合与技术测量薛庆红高等教育出版社

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作者薛庆红

出版社高等教育出版社

ISBN9787040500110

出版时间2018-09

版次1

装帧平装

开本16开

纸张胶版纸

页数184页

定价34.8元

货号9787040500110

上书时间2024-07-08

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商品描述: 基本信息
书名:公差配合与技术测量
定价：34.80元
作者:薛庆红
出版社：高等教育出版社
出版日期：2018-09-01
ISBN：9787040500110
字数：
页码：184
版次：1
装帧：平装
开本：16开
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内容提要
本书结合了近年来职业教育改革的成果以及职业教育的特点，以成果导向为主导思想，理论与实践紧密结合。全书采用新颁布的国家标准，把传统测量技术与先进测量设备及新技术应用相结合，使教材内容与技术发展紧密结合。　　全书共分7章，内容包括绪论，尺寸的公差、配合与检测，几何公差与检测，表面粗糙度与检测，圆锥和角度的公差与检测，光滑极限量规设计，常用结合件的公差与检测，并在关键知识点配有数字化资源。根据职业教育的目标和要求，全书重点介绍产品几何公差的含义及检测方法，对于几何精度设计没有过多介绍。　　本书可以作为高等职业院校机械类及近机械类专业专科教材及高职本科教材，也可作为成人教育学院、函授大学、电视大学等相关专业教材，还可作为从事机械设计与机械制造相关工作的工程技术人员的参考用书。
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序言

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