集成电路开发与测试
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作者夏 著；居水荣、杭州朗迅科技有限公司、组 编
出版社高等教育出版社
ISBN9787040553062
出版时间2020-12
版次1
装帧平装
开本16开
页数300页
定价58元
货号409_9787040553062
上书时间2024-12-26
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