SiC/GaN功率半导体封装和可靠性评估技术
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作者菅沼 克昭
出版社机械工业出版社
ISBN9787111669531
出版时间2021-01
版次1
装帧其他
开本其他
纸张胶版纸
页数208页
字数224千字
定价89元
货号409_9787111669531
上书时间2024-12-15
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