数字射线检测技术

图书标准信息

• 作者 郑世才 王晓勇
• 出版社 机械工业出版社
• 出版时间 2018-08
• 版次 3
• ISBN 9787111619802
• 定价 69.00元
• 装帧 平装
• 开本 其他
• 页数 186页
• 字数 0.3千字

【内容简介】

《射线数字检测技术》内容包括概述、辐射探测器与其他器件、数字射线检测基本理论、数字射线检测基本技术、工业常用数字射线检测系统、等价性问题、实验及附录。经过本次修订，本书在内容上构成了一个基本完整的数字射线检测技术知识系统，形成了比较清楚的Ⅱ级人员与Ⅲ级人员要求的区分界定。

【目录】

前言章概述1.1数字射线检测技术的发展概况1.2数字射线检测技术与胶片射线检测技术的区别1.3数字射线检测技术基本理论1.4等价性问题1.5数字射线检测技术标准复习题第2章辐射探测器与其他器件2.1辐射探测器概述2.1.1辐射探测器的类型（*）*2.1.2辐射探测器的一般特性2.1.3辐射探测器系统2.2辐射探测器系统的基本性能2.3分立辐射探测器（DDA）2.3.1非晶硅辐射探测器（*）2.3.2非晶硒辐射探测器2.3.3CCD或CMOS辐射探测器2.3.4分立辐射探测器的性能（*）2.4成像板系统（IP板系统）2.4.1IP板（*）*2.4.2IP板的主要特性2.4.3IP板系统的基本性能（*）*2.5图像增强器系统 *2.5.1图像增强器的基本结构*2.5.2图像增强器系统的探测过程*2.5.3图像增强器系统的主要性能2.6A/D转换器 2.7射线检测的像质计与线对卡2.7.1像质计概述2.7.2常规像质计2.7.3双丝型像质计（*）*2.74线对卡复习题第3章数字射线检测基本理论3.1数字图像概念3.1.1数字图像的基本概念3.1.2数字图像的空间频率**3.1.3灰度*3.1.4数字图像文件格式3.2图像数字化基本理论3.2.1图像数字化过程3.2.2采样定理（*）*3.2.3量化位数3.3数字射线检测图像质量3.3.1检测图像对比度3.3.2检测图像空间分辨力（*）3.3.3检测图像信噪比（*）3.4检测图像与细节识别和分辨3.4.1检测图像与细节识别的关系（*）3.4.2检测图像与细节分辨的关系（*）**3.5细节可识别性理论关系式复习题第4章数字射线检测基本技术4.1概述4.2探测器系统选择4.2.1探测器系统概述4.2.2探测器系统基本空间分辨力选择4.2.3规格化信噪比选择4.3数字射线检测透照技术4.3.1透照技术控制概述4.3.2最佳放大倍数（*）4.3.3源到工件表面的距离（*）4.3.4曝光曲线（*）4.4图像数字化参数控制4.5检测图像显示与缺陷评定技术4.5.1图像显示与观察条件（*）4.5.2图像观察识别技术4.5.3缺陷识别与质量级别评定4.5.4尺寸测量（*）**4.5.5厚度测定4.6数字射线检测图像质量控制4.6.1检测图像质量参数控制4.6.2图像质量的补偿规则（*）*4.7数字射线检测技术级别近似设计*4.7.1技术级别设计概述*4.7.2检测图像常规像质计指标近似设计*4.7.3检测图像不清晰度（空间分辨力）指标设计*4.7.4例题4.8数字射线检测技术稳定性控制4.8.1检测工艺文件（检测程序文件）4.8.2检测系统性能的长期稳定性试验控制4.8.3检测工艺卡编制复习题第5章工业常用数字射线检测系统5.1概述5.2DR系统5.2.1DR系统组成5.2.2DR系统技术控制（*）5.2.3探测器响应校正与坏像素修正（*）5.2.4DR系统应用特点5.3CR系统5.3.1CR系统检测基本过程5.3.2CR系统技术控制5.3.3CR系统应用*5.4图像增强器数字射线检测系统**5.5微焦点数字射线检测系统**5.6底片图像数字化扫描技术**5.6.1扫描仪概述**5.6.2扫描仪的基本性能指标**5.6.3扫描技术**5.6.4扫描仪选用复习题第6章等价性问题6.1等价性问题概述6.2等价技术级别评定6.2.1等价技术级别评定概述*6.2.2胶片射线照相检测技术的检测图像质量指标分析*6.2.3等价技术级别评定过程*6.2.4等价技术级别评定例题**6.3等价性问题的理论处理方法复习题第7章实验实验1DDA基本空间分辨力测定实验2DDA规格化信噪比与曝光量平方根关系曲线测定实验3DDA像素尺寸对缺陷检测的影响实验4IP板图像读出扫描点尺寸对缺陷检测的影响实验5曝光量对检测图像质量的影响实验6最佳放大倍数试验实验7曝光曲线制作实验8图像软件使用实验9DDA数字射线检测系统使用实验10CR数字射线检测系统使用附录附录A辐射探测器的基础性知识附录B采样定理说明附录C数字图像增强处理技术简介附录D动态数字射线检测技术附录E射线检测技术系统的调制传递函数附录F复习参考题答案参考文献