电子元器件可靠性技术基础9787512437142
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作者高成 著；付桂翠；万博；张素娟
出版社北京航空航天大学出版社
ISBN9787512437142
出版时间2022-01
版次2
装帧其他
开本16开
纸张胶版纸
字数448千字
定价55元
货号孔TCTS9787512437142
上书时间2024-04-16
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