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作者〔美〕M·H·洛雷托 R·E·斯莫尔曼 著
出版社上海科学技术出版社
出版时间1979
印刷时间1979
装帧平装
开本32开
纸张纯质纸
页数111页
货号90
上书时间2023-04-20
分析晶体缺陷的电子显微术
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