Recombination Lifetime Measurements in Silicon 【英文原版，有附加资料】
硅中的复合寿命测量
￥ 143 九五品
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北京朝阳
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作者Fred R. Backer (Editor); William H. Hughes (Editor); Dinesh C. Gupta (Editor)
出版社ASTM International 1998出版
ISBN9780803124899
出版时间1983
装帧精装
页数392页
货号10-3
上书时间2023-11-08
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商品详情
- 品相描述：九五品
- 英文原版，精装大32开本，好品见图。
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