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Software Test Engineering with IBM Rational Functional Tester

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￥ 160 八五品

仅1件

北京昌平
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作者Davis, Chip; Chirillo, Daniel; Gouveia, Daniel

出版社Davis, Chip; Chirillo, Daniel; Gouveia, Daniel

ISBN9780137000661

出版时间2010

装帧平装

开本16开

页数649页

货号C35

上书时间2022-10-22

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品相描述：八五品

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