分析晶体缺陷的电子显微术
【馆藏书】
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辽宁锦州
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作者美）M.H.洛雷托等
出版社上海科学技术出版社
出版时间1979-11
装帧平装
开本大32开
页数111页
上书时间2023-05-27
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