微波和太赫兹波段复介电常数与复磁导率测量技术

41.56 7.2折 58 全新

库存10件

四川成都

认证卖家担保交易快速发货售后保障

作者杨闯著

出版社北京邮电大学出版社

ISBN9787563572465

出版时间2024-06

装帧平装

开本16开

定价58元

货号1203362066

上书时间2024-12-12

已实名已认证进店收藏店铺

商品描述: 目录
第1章绪论

1.1研究背景

1.2研究现状

1.2.1T/R测试单层平板的提取方法与技术的研究现状

1.2.2T/R测试薄膜和粉末/颗粒的提取方法与技术的研究现状

1.2.3R-O和T-O测试单层平板的提取方法与技术的研究现状

1.3研究内容和创新

1.4结构及内容安排

本章小结

第2章二端口传输线测量理论与技术

2.1传输线S参数

2.1.1S参数矩阵

2.1.2S参数与电磁场边值的关系

2.2二端口传输线测试及其S参数

2.2.1T/R测试及其S参数

2.2.2R-O测试及其S参数

2.2.3T-O测试及其S参数

2.3本征电磁参数提取算法

……

内容摘要
本书面向微波和太赫兹波段移动通信、卫星通信与定位技术、雷达遥感、无损检测等对材料复介电常数与复磁导率的需求，通过构建二端口传输线法测量的解析与人工神经网络反演模型，突破当前从二端口传输线法传输/反射、仅反射或仅传输测试S参数反演复介电常数与复磁导率的技术瓶颈，支持板材、薄膜、粉末/颗粒等物质形态下的测量，支持单层待测物、多层夹具内待测物的测量。本书所提复介电常数与复磁导率测量技术，对未来微波和太赫兹波段通信与感知系统设计具有重要的应用价值。

本书适合电子科学与技术、信息与通信工程等专业的高年级本科生和研究生使用，也可供相关专业的工程技术人员参考。

— 没有更多了 —